Международная конференция "Микро- и наноэлектроника - 2018" (ICMNE-2018) с расширенной сессией "Квантовая информатика" состоится в подмосковном парк-отеле “Ершово”,
г. Звенигород, с 1 по 5 октября 2018 г.

   Эта конференция продолжает ряд регулярных Всероссийских ("МНЕ-1999", "МНЕ-2001", "КИ-2002") и международных ("ICMNE-2003", "QI-2004", "ICMNE-2005", "QI-2005", "ICMNE-2007", "QI-2007", "ICMNE-2009", "QI-2009", "ICMNE-2012", "QI-2012", "ICMNE-2014", "QI-2014", "ICMNE-2016" и "QI-2016") конференций.
   Общая информация
 
   Важные даты
 
   Комитеты
 
   Научная программа
 
   Скачать
 
   Информационное сообщение
 
   Выставка
 
   Место проведения
 
   Контактная информация
 
   Научная программа
 
   Регистрация
 
   Информация о ICMNE-2016
 
   Информация о ICMNE-2014
 
   Информация о ICMNE-2012
 
   Информация о ICMNE-2009
 
   Информация о ICMNE-2007
 
   Информация о ICMNE-2005
 
   Информация о ICMNE-2003
 


















Общая информация

Доступна программа конференции (pdf)

здесь

Информация для докладчиков

здесь




Международная конференция "Микро- и наноэлектроника – 2018" (ICMNE-2018), включающая расширенную сессию "Квантовая информатика" (QI-2018), будет проводиться 1-5 октября 2018 в парк-отеле "Ершово", Звенигород, Московская область, Россия. Она продолжает серию Всероссийских конференций "МНЕ-1999", "МНЕ-2001", "КИ-2002" и международных конференций "ICMNE-2003", "QI-2004", "ICMNE-2005", "QI-2005", "ICMNE-2007", "QI-2007", "ICMNE-2009", "QI-2009", "ICMNE-2012", "QI-2012", "ICMNE-2014", "QI-2014", "ICMNE-2016" и "QI-2016".

   Конференция ICMNE проводится один раз в два года и охватывает большинство областей микро- и наноэлектронных технологий, а также физики микро- и наноразмерных приборов. ICMNE-2018 будет сконцентрирована на освещении последних достижений в этой сфере. На конференции будет работать выставка, посвященная технологическому и диагностическому оборудованию для микро- и наноэлектронных применений.

   В 2018 году в рамках конференции будет организован российско-японский круглый стол с участием ведущих ученых.

Тематика:

Физика микро- и наноразмерных приборов:

  • Проблемы и пути масштабирования наноразмерных приборов и интегральных схем.
  • Нанотранзисторы: CMOS FET, TFET, SET, молекулярные транзисторы и переключатели и т.д.
  • Интегральные устройства памяти: DRAM, ReRAM, FeRAM.
  • Приборы с 1D и 2D каналами.
  • Углеродная микро- и наноэлектроника.
  • Твердотельные приборы для THz генерации и детектирования.
  • Магнитные микро- и наноструктуры и приборы, спинтроника.
  • Сверхпроводящие микро- и наноприборы и устройства.
  • Приборы оптоэлектроники, фотоники.
  • Сенсоры, микро- и наноэлектромеханические системы (MEMS, NEMS, BioMEMS).
  • Моделирование приборов.

Технология и характеризация материалов для микро- и наноэлектроники:

  • Si, SOI, SiGe, A3B5, A2B6.
  • High-k, low-k диэлектрики.
  • Металлические пленки в приборных структурах УБИС.
  • 1D, 2D материалы.
  • Магнитные материалы, наномагнетики.
  • Материалы оптоэлектроники, фотовольтаики, метаматериалы.

Технологические процессы и перспективное технологическое оборудование микро- и наноэлектроники:

  • Литография: иммерсионная, EUV, электронная и ионная литография, наноимпринт.
  • Front-End of Line (FEOL) процессы для технологии УБИС.
  • Back-End of Line (BEOL) процессы для технологии УБИС.
  • Front-End of Line (FEOL) процессы для технологии УБИС.
  • Технологии 3D-интеграции интегральных схем.
  • Технология 2D материалов и структур для наноэлектроники (графен, MoS2, WS2 и др.
  • Технологии 1D структур (нанопровода, нанотрубки).
  • Технологии MEMS, NEMS, BioMEMS.
  • Технологии изготовления сверхпроводящих приборов.

Метрология:

  • Методы диагностики и управления технологическими процессами In situ (End-point детекторы, смарт-сенсоры).
  • Методы контроля, диагностики и характеризации микро- и наноструктур.

Квантовая информатика:

  • Квантовые компьютеры: теория и эксперимент.
  • Квантовые измерения.
  • Квантовые алгоритмы.
  • Квантовая связь.

Организаторы и спонсоры:

  • Физико-технологический институт РАН, Москва, Россия
  • АО "НИИМЭ", Зеленоград, Россия
  • Российский фонд фундаментальных исследований, Москва, Россия
  • Oтделение нанотехнологий и информационных технологий РАН
  • SPIE – The International Society for Optical Engineering
  • Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Новосибирск, Россия
  • Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
  • Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова, Ярославль, Россия
  • TechnoInfo Ltd., Wembley, UK
  • Компания НИКС, Москва, Россия

Язык:

Рабочий язык конференции – английский.

Тезисы докладов:

   Оргкомитет ICMNE-2018 приветствует доклады, присланные от академического сообщества, университетов, отраслевой науки. Программный комитет будет оказывать предпочтение докладам, содержащим результаты последних оригинальных исследований, соответствующих тематике конференции. Тезисы докладов должны быть написаны ясным и лаконичным английским языком.

   Программа конференции будет включать как приглашенные доклады, так и принятые по результатам рецензирования Программным комитетом ICMNE-2018. Рейтинговое рецензирование будет проводиться на основе присланных тезисов докладов с учетом их соответствия тематике конференции и научному качеству представленных результатов. Окончательное решение о форме представления доклада (устной или в виде постера) принимается Программным и Организационным комитетами; пожелания авторов учитываются.

   Вы можете скачать шаблон одностраничных тезисов в разделе Скачать сайта конференции. Файлы с тезисами принимаются Локальным оргкомитетом ICMNE-2018 по электронной почте icmne2018@gmail.com.

   Теперь вы можете скачать Сборник тезисов.

Труды конференции:

   SPIE Digital Library публикует полные тексты докладов в отдельном томе Proceedings of SPIE, представляющем конференцию ICMNE-2018, после окончания конференции.

   Авторам необходимо подготовить рукописи полных текстов в размере научной статьи, оформленные в соответствии с правилами для Proceedings of SPIE (указаны в разделе Скачать), и направить их в издательство, используя Author Submission & Chair Review System. Тексты для публикации в SPIE должны быть написаны явным и лаконичным английским языком. Допустимый размер статьи составляет 4-12 страниц.

   Последний срок отправки рукописей полных текстов докладов в SPIE – 5 ноября 2018. Необходимо также отправить копии полнотекстовых докладов и заполненные формы SPIE о передаче авторских прав в Локальный оргкомитет ICMNE-2018. Без этого публикация в SPIE будет отклонена.

   Поскольку издание Proceedings of SPIE является рецензируемым, доклады, не представленные и не обсужденные на конференции, публиковаться в нем не будут.





Contact us To home page To Russian To English